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中溫法向輻射率測(cè)量裝置 實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
中溫法向輻射率測(cè)量儀裝置 實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
中溫法向輻射率測(cè)量設(shè)備 實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
中溫法向輻射率測(cè)量儀器實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
中溫法向輻射率測(cè)量儀實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
中溫法向輻射率測(cè)量儀設(shè)備實(shí)驗(yàn)?zāi)康? 利用比較法測(cè)試固體表面法向輻射時(shí)的物體黑度：通過對(duì)三組加熱器電壓的調(diào)整（熱源一組，傳導(dǎo)體二組），使熱源和傳導(dǎo)體的溫度基本相同并恒定，然后分別將“待測(cè)”（受體為待測(cè)物體，具有原來的表面狀態(tài)）和“黑體 ”（受體仍為待測(cè)物體，但表面薰黑）兩種狀態(tài)的受體在相同的時(shí)間接受熱輻射，測(cè)出受到輻射后的溫度，再按公式計(jì)算出待測(cè)物體的黑度。
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